Publication
Recent progress of KEKB
Y. Funakoshi, T. Agho, K. Akai, K. Ebihara, K. Egawa, A. Enomoto, J. Flanagan, H. Fukuma, K. Furukawa, T. Furuya, J. Haba, S. Hiramatsu, T. Ieiri, N. Iida, H. Ikeda, T. Kageyama, S. Kamada, T. Kamitani, S. Kato, M. Kikuchi, E. Kikutani, H. Koiso, M. Masuzawa, T. Mimashi, A. Morita, T. T. Nakamura, K. Nakanishi, H. Nakayama, Y. Ogawa, K. Ohmi, Y. Ohnishi, N. Ohuchi, K. Oide, M. Ono, M. Shimada, M. Suetake, Y. Suetsugu, T. Sugimura, T. Suwada, M. Tawada, M. Tejima, M. Tobiyama, N. Tokuda, S. Uehara, S. Uno, N. Yamamoto, Y. Yamamoto, Y. Yano, K. Yokoyama, Ma. Yoshida, Mi. Yoshida, S. Yoshimoto, F. Zimmermann
January 2007, Institute of Electrical & Electronics Engineers (IEEE)
DOI: 10.1109/pac.2007.4440794