Publication
Beam-beam effects observed at KEKB
Y. Funakoshi, K. Ohmi, T. Agho, K. Akai, K. Ebihara, K. Egawa, A. Enomoto, J. Flanagan, H. Fukuma, K. Furukawa, T. Furuya, J. Haba, S. Hiramatsu, T. Ieiri, N. Iida, H. Ikeda, T. Kageyama, S. Kamada, T. Kamitani, S. Kato, M. Kikuchi, E. Kikutani, H. Koiso, M. Masuzawa, T. Mimashi, A. Morita, T. T. Nakamura, K. Nakanishi, H. Nakayama, Y. Ogawa, Y. Ohnishi, N. Ohuchi, K. Oide, M. Ono, M. Shimada, M. Suetake, Y. Suetsugu, T. Sugimura, T. Suwada, M. Tawada, M. Tejima, M. Tobiyama, N. Tokuda, S. Uehara, S. Uno, Y. Yamamoto, Y. Yano, K. Yokoyama, Ma. Yoshida, Mi. Yoshida, S. Yoshimoto, E. Perevedentsev, D. N. Shatilov
January 2007, Institute of Electrical & Electronics Engineers (IEEE)
DOI: 10.1109/pac.2007.4440408