Publication
Recent Progress at KEKB
Y. Funakoshi, K. Akai, K. Ebihara, K. Egawa, A. Enomoto, J. Flanagan, H. Fukuma, K. Furukawa, T. Furuya, J. Haba, S. Hiramatsu, T. Ieiri, N. Iida, H. Ikeda, T. Kageyama, S. Kamada, T. Kamitani, S. Kato, M. Kikuchi, E. Kikutani, H. Koiso, M. Masuzawa, T. Mimashi, A. Morita, T.T. Nakamura, H. Nakayama, Y. Ogawa, K. Ohmi, Y. Ohnishi, N. Ohuchi, K. Oide, M. Ono, M. Shimada, S. Stanic, M. Suetake, Y. Suetsugu, T. Sugimura, T. Suwada, M. Tawada, M. Tejima, M. Tobiyama, N. Tokuda, S. Uehara, S. Uno, N. Yamamoto, Y. Yamamoto, Y. Yano, K. Yokoyama, Ma. Yoshida, Mi. Yoshida, S. Yoshimoto, F. Zimmermann
Institute of Electrical & Electronics Engineers (IEEE)
DOI: 10.1109/pac.2005.1590653