Publication
Calibration and characterization of the line-VISAR diagnostic at the HED-HIBEF instrument at the European XFEL
A. Descamps, T. M. Hutchinson, R. Briggs, E. E. McBride, M. Millot, T. Michelat, J. H. Eggert, B. Albertazzi, L. Antonelli, M. R. Armstrong, C. Baehtz, O. B. Ball, S. Banerjee, A. B. Belonoshko, A. Benuzzi-Mounaix, C. A. Bolme, V. Bouffetier, K. Buakor, T. Butcher, V. Cerantola, J. Chantel, A. L. Coleman, J. Collier, G. Collins, A. J. Comley, F. Coppari, T. E. Cowan, C. Crépisson, G. Cristoforetti, H. Cynn, S. Di Dio Cafiso, F. Dorchies, M. J. Duff, A. Dwivedi, D. Errandonea, E. Galtier, H. Ginestet, L. Gizzi, A. Gleason, S. Goede, J. M. Gonzalez, M. G. Gorman, M. Harmand, N. J. Hartley, P. G. Heighway, C. Hernandez-Gomez, A. Higginbotham, H. Höppner, R. J. Husband, H. Hwang, J. Kim, P. Koester, Z. Konopkova, D. Kraus, A. Krygier, L. Labate, A. Laso Garcia, A. E. Lazicki, Y. Lee, P. Mason, M. Masruri, B. Massani, D. McGonegle, C. McGuire, J. D. McHardy, R. S. McWilliams, S. Merkel, G. Morard, B. Nagler, M. Nakatsutsumi, K. Nguyen-Cong, A.-M. Norton, I. I. Oleynik, C. Otzen, N. Ozaki, S. Pandolfi, D. J. Peake, A. Pelka, K. A. Pereira, J. P. Phillips, C. Prescher, T. R. Preston, L. Randolph, D. Ranjan, A. Ravasio, R. Redmer, J. Rips, D. Santamaria-Perez, D. J. Savage, M. Schoelmerich, J-P. Schwinkendorf, S. Singh, J. Smith, R. F. Smith, A. Sollier, J. Spear, C. Spindloe, M. Stevenson, C. Strohm, T-A. Suer, M. Tang, T. Tschentscher, M. Toncian, T. Toncian, S. J. Tracy, M. Tyldesley, C. E. Vennari, T. Vinci, T. J. Volz, J. Vorberger, J. P. S. Walsh, J. S. Wark, J. T. Willman, L. Wollenweber, U. Zastrau, E. Brambrink, K. Appel, M. I. McMahon
Review of Scientific Instruments, July 2025, American Institute of Physics
DOI: 10.1063/5.0271027