Publication
Catalogue of dual-field interferometric binary calibrators
M. Nowak, S. Lacour, R. Abuter, A. Amorim, R. Asensio-Torres, W. O. Balmer, M. Benisty, J.-P. Berger, H. Beust, S. Blunt, A. Boccaletti, M. Bonnefoy, H. Bonnet, M. S. Bordoni, G. Bourdarot, W. Brandner, F. Cantalloube, B. Charnay, G. Chauvin, A. Chavez, E. Choquet, V. Christiaens, Y. Clénet, V. Coudé du Foresto, A. Cridland, R. Davies, R. Dembet, J. Dexter, A. Drescher, G. Duvert, A. Eckart, F. Eisenhauer, N. M. Förster Schreiber, P. Garcia, R. Garcia Lopez, T. Gardner, E. Gendron, R. Genzel, S. Gillessen, J. H. Girard, S. Grant, X. Haubois, G. Heißel, T. Henning, S. Hinkley, S. Hippler, M. Houllé, Z. Hubert, L. Jocou, J. Kammerer, M. Keppler, P. Kervella, L. Kreidberg, N. T. Kurtovic, A.-M. Lagrange, V. Lapeyrère, J.-B. Le Bouquin, P. Léna, D. Lutz, A.-L. Maire, F. Mang, G.-D. Marleau, A. Mérand, J. D. Monnier, C. Mordasini, D. Mouillet, E. Nasedkin, T. Ott, G. P. P. L. Otten, C. Paladini, T. Paumard, K. Perraut, G. Perrin, O. Pfuhl, N. Pourré, L. Pueyo, D. C. Ribeiro, E. Rickman, Z. Rustamkulov, J. Shangguan, T. Shimizu, D. Sing, J. Stadler, T. Stolker, O. Straub, C. Straubmeier, E. Sturm, M. Subroweit, L. J. Tacconi, E. F. van Dishoeck, A. Vigan, F. Vincent, S. D. von Fellenberg, J. J. Wang, F. Widmann, T. O. Winterhalder, J. Woillez, Ş. Yazıcı
EAS Publications Series, July 2024, EDP Sciences
DOI: 10.1051/0004-6361/202449504