Caractérisation des panaches industriels par imagerie hyperspectrale aéroportée

Xavier Briottet, Pierre-Yves Foucher, Rodolphe Marion, Adrien Deschamps
  • Photoniques, January 2013, EDP Sciences
  • DOI: 10.1051/photon/20136326

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http://dx.doi.org/10.1051/photon/20136326

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